Baskılı devre kartlarının kontrolü için mikroskop optiği

Optris PI 640i infrared kameralar için geliştirilen yeni mikroskop optiği, baskılı devre kartlarında kesin ve güvenilir sıcaklık ölçümünü mümkün kılar. Bu esnada hem tüm devre kartı hem de ayrıntılı makro çekimler 28 μm'lik bir çözünürlükle odaklanabilir. Kamera ile obje arasındaki ölçüm mesafesi 80 ile 100 mm arasında değişmektedir.

Teslimat kapsamında bulunan yüksek kaliteli masa konsolu, kameranın her zaman hassas şekilde ayarlanmasına olanak verir.

Önemli parametreler

Küçük bileşenlerin 28 µm çözünürlüğe kadar analizi
Eş zamanlı elektrik testi ve termal analiz
80 mK Sıcaklık çözünürlüğü (NETD) ile

Mikroskop optiğinin kullanım alanları

Optris infrared mikroskop optiği, hem komple baskılı devre kartlarının termal analizine hem de münferit unsurların detaylı makro çekimine olanak tanır. Kameraların çok iyi termal ve geometrik detay çözünürlüğü en küçük sıcaklık farklarını gösterir ve böylece elektronik ürünlerin etkin ve hassas bir şekilde test edilmesini sağlar.

Termal Kameralar optris PI.pdf (3.3 MB)